Технология определения геометрических отклонений крупных станков должна соответствовать пяти обязательным критериям:
Высокая точность. В современном производстве необходимо проводить измерения на микронном или даже субмикронном уровне.
Полнота информации. Нужно не только выявить погрешности позиционирования осей, которые определяют обычные лазерные интерферометры, но и измерить и скорректировать другие геометрические параметры: прямолинейность, тангаж, рыскание, крен и положение отдельных осей.
Скорость измерений. Машинное время — ценный ресурс, поэтому измерения должны проходить максимально быстро и автоматизировано.
Простота эксплуатации. У опытных специалистов должна быть возможность проводить измерения прямо на производстве.
Простота передачи данных. Данные для компенсации погрешностей должны передаваться в контроллер станка при помощи простых интерфейсов.
Технология ETALON полностью соответствует этим требованиям. Она основана на измерениях длины следящим лазерным интерферометром с разрешением 0,001 мкм.
Измерения проходят по принципу мультилатерации, который в сочетании с уникальным программным обеспечением позволяет быстро и точно определить погрешности линейных и поворотных осей во всем рабочем объеме станка. При этом практически полностью исключается воздействие внешних факторов.
Технология ETALON предоставляет сертифицированные интерфейсы, которые позволяют в полной мере задействовать широкие возможности компенсации ЧПУ Siemens, Heidenhain, Fanuc, Fidia, Mazatronik и других.